经过近20年的科学技术发展,原子力显微镜已经从实验室走向市场,从简单的的仪器开发了一系列扫描探针显微镜(SPM),完善了其设计理论。
今天对SPM理论进行深入的研究和分析,详细总结了SPM的基本结构和各个环节。从SPM理论出发,重新设计了轻敲模式的原子力显微镜。测量速度和精度定标一直是困扰轻敲原子力显微镜的两大问题。因此,我们首次结合相位检测技术和表面形态测量,提出了一种新的表面形态测量技术:恒敲击力控制反馈模型。由于探针样品在轻敲模式下工作,探针样品的定期接触导致探针振动中包含高谐波分量,通过检测探针样品的敲击力来控制探针振幅,使探针样品的力恒定,探针振幅的变化反映了表面形态。
该方法不仅可以提高探针样品和系统的反应时间,还可以通过干扰振幅测量直接获得表面形态的纵向定量值,为纵向定标提出了新的思路。基于AFM系统的复杂性,暂且放弃了理论建模分析系统精度,试图从系统识别的角度实践AFM精度,指出了AFM精度和分辨率的主要影响因素。
以上就是原子力显微镜在轻敲模式下的优化介绍,想要了解更多关于产品和公司的情况可以关注我们葛兰帕科技,或者直接拨打13575736133咨询。
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